[发明专利]测试装置与其探针结构有效

专利信息
申请号: 200710088841.2 申请日: 2007-03-28
公开(公告)号: CN101275970A 公开(公告)日: 2008-10-01
发明(设计)人: 巫家玮 申请(专利权)人: 南亚科技股份有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067;G01R1/073;G01R31/26;H01L21/66
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台湾桃园县龟山*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是有关于一种分离式结构的探针,用来接触一待测物,以对其电气特性进行探测。本发明所提供的探针具有一接触头,可以用来接触待测物,并且此探针具有一第一针体和一第二针体。其中,第一针体与接触头互相连接,以传送一测试讯号到待测物上来进行探测。另外,第二针体也连接到接触头,其用来传送待测物因为测试讯号所产生的一回应讯号,以获得待测物的电气特性。本发明所提供的探针具有较小的讯号衰减度,进而使本发明提供的侦测装置能够较精确地量测待测物的电气特性。
搜索关键词: 测试 装置 与其 探针 结构
【主权项】:
1. 一种分离式结构的探针,适于接触一待测物,以对该待测物的电气特性进行探测,其特征在于该探针具有:一接触头,用以接触该待测物;一第一针体,连接该接触头,用以传送一测试讯号到该待测物来进行探测;以及一第二针体,连接该接触头,用以传送该待测物对该测试讯号所产生的一回应讯号。
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