[发明专利]光学信息再现装置及利用该装置的光学信息再现方法无效
| 申请号： | 200710089186.2 | 申请日： | 2007-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN101051211A | 公开（公告）日： | 2007-10-10 |
| 发明（设计）人： | 丁奎一 | 申请（专利权）人： | 大宇电子株式会社 |
| 主分类号： | G03H1/22 | 分类号： | G03H1/22;G03H1/00;G11B7/0065 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉;吕俊刚 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供了一种光学信息再现装置及利用该装置的光学信息再现方法。所述光学信息再现装置包括：光源；分束器，其将从所述光源发射的光束分束为参考光束和临时光束；临时光束分束器，其将所述临时光束分束为一对辅助光束；入射光学系统，其向记录有光学信息的记录介质输入所述参考光束和所述辅助光束；再现光束检测器，其检测响应于所述参考光束而再现的再现光束，将具有最大光强的再现光束的位置设置为基准位置，并且根据所述参考光束来设置信号区域；以及辅助光束检测器，其将入射到所述信号区域的辅助光束的光强相互进行比较并设置所述参考光束的入射角。因此，可以在从记录介质再现数据时检测倾斜误差并校正该倾斜误差。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 信息 再现 装置 利用 方法 | ||
【主权项】：
1、一种光学信息再现装置，该光学信息再现装置包括：光源；分束器，其将从所述光源发射的光束分束为参考光束和临时光束；临时光束分束器，其将所述临时光束分束为一对辅助光束；入射光学系统，其向记录有光学信息的记录介质输入所述参考光束和所述辅助光束；再现光束检测器，其检测响应于所述参考光束而再现的再现光束；以及辅助光束检测器，其检测由所述光学信息衍射的所述辅助光束的光强，以读出所述记录介质的倾角。
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