[发明专利]半导体器件测试图形交互式布局的方法

摘要

本发明公开了一种半导体器件测试图形交互式布局的方法，其包括如下步骤：(1)通过手动版图编辑工具的坐标转换接口，获取待排布的器件测试图形本身各自的矩形坐标信息，后进行矩阵坐标变换和矩形尺寸放大，得新坐标信息；(2)根据步骤(1)获取的坐标，利用排布程序对所有输入矩形进行排布，输出一排布图形的矩形阵列；(3)将排好后的矩形阵列中，将步骤(1)中做过矩阵变换的矩形作逆向矩阵变换，并对将步骤(1)中放大的尺寸减去，输出新的矩形坐标；(4)根据步骤(3)输出的矩形坐标，更新相应的测试图形的矩形坐标。本发明的方法避免原有的测试图形布局时繁琐的手动版图编辑工作，适用于半导体器件开发中测试图形的布局。

主权项

1、一种半导体器件测试图形交互式布局的方法，用于将多个尺寸不同的器件的矩形测试图形排布成一整个芯片，其特征在于，该方法包括以下步骤：(1)通过手动版图编辑工具的坐标转换接口，获取待排布的器件测试图形本身的矩形左下角坐标(x1，y1)和右上角坐标(x2，y2)，后根据不同矩形在坐标系中所具有的旋转和镜像的属性进行矩阵坐标变换，并对每个矩形的长宽各放大一设定的尺寸，得到新的左下角坐标(x1′，y1′)和右上角坐标(x2′，y2′)；(2)根据步骤(1)获取的坐标，利用排布程序对所有矩形进行排布，比较各种排布图形的形状和尺寸，输出一形状最接近正方形且尺寸最小的排布图形的矩形阵列；(3)将排好后的矩形阵列中，将步骤(1)中做过矩阵变换的矩形作逆向矩阵变换，并对将步骤(1)中放大的尺寸减去，输出新的矩形坐标；(4)根据步骤(3)输出的矩形坐标，求出各个矩形的x轴方向的偏移量和y轴方向的偏移量，并更新手动版图编辑工具中相应的测试图形的矩形坐标。