[发明专利]半导体集成电路系统、半导体集成电路、操作系统和半导体集成电路的控制无效
| 申请号： | 200710097923.3 | 申请日： | 2007-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN101078997A | 公开（公告）日： | 2007-11-28 |
| 发明（设计）人： | 屉川幸宏 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00;G05F1/10;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 徐金国;梁挥 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种半导体集成电路系统，可以排除过剩的容限，提高半导体集成电路的特性，具有：执行程序的控制对象电路；输出表示所述控制对象电路状态的系统信息监视部；求出所述控制对象电路的电路特性并将所述电路特性作为电路特性信息输出电路特性监视部；根据所述系统信息判断所述控制对象电路是否正常工作故障判断部；所述控制对象电路正常工作时，将所述电路特性信息作为基准电路特性信息进行保持的基准电路特性保持部；当所述控制对象电路不能正常工作时，根据所述电路特性监视部检测出的电路特性信息和所述基准电路特性信息判断故障原因的故障原因判断部；根据所述故障原因判断所述控制对象电路中的校正对象的校正对象判断部。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 系统 操作系统 控制 | ||
【主权项】：
1、一种半导体集成电路系统，包括：执行程序的控制对象电路；输出表示所述控制对象电路状态的系统信息的系统信息监视部；求出所述控制对象电路的电路特性并将所述电路特性作为电路特性信息输出的电路特性监视部；根据所述系统信息判断所述控制对象电路是否正常工作的故障判断部；当所述控制对象电路正常工作时，将所述电路特性信息作为基准电路特性信息进行保持的基准电路特性保持部；当所述控制对象电路不能正常工作时，根据所述电路特性监视部检测出的电路特性信息和所述基准电路特性信息判断故障原因的故障原因判断部；根据所述故障原因判断所述控制对象电路中的校正对象，生成并输出所述校正对象中的目标电子的特性信息的校正对象判断部；以及根据所述目标电子特性信息控制所述控制对象电路的电子特性控制部。
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