[发明专利]基于半导体激光器自混合效应的高反射率测量方法

摘要

本发明公开了基于半导体激光器自混合效应的高反射率测量方法，属于对光学元件参数进行测量的技术领域。在测量衰荡时间确定高反射率的现有光腔衰荡技术中，利用半导体激光器的自混合效应，通过控制连续波半导体激光器的后向反馈光强度来提高激光功率到衰荡光腔的耦合效率，使光腔输出信号信噪比大大提高，从而提高了高反射率的测量精度和测量范围。控制后向反馈光强度使光腔输出信号幅值达到最大的方式包括：在半导体激光器和第一块腔镜之间插入线偏振片、衰减片、光隔离器、或可变光阑，或者调节第一块腔镜的俯仰，或者改变激光器和第一块腔镜的距离。

主权项

1、基于半导体激光器自混合效应的高反射率测量方法，其特征在于通过以下步骤实现：(1)连续激光入射到两块相同的平凹高反射腔镜、凹面镀高反膜且凹面相对构成的直腔，控制第一块腔镜反射回激光器谐振腔的后向反馈光光强，使光腔输出信号中出现共振尖峰并使其峰值达到最大；(2)当光腔输出信号中尖峰信号幅值高于设定的阈值时，触发关闭激光束，由直腔输出的衰荡信号拟合得到直腔衰荡时间并计算得到腔镜反射率；(3)保持腔长不变，在两块相同的平凹高反射腔镜之间加入高反射测试镜构成的折叠腔，当折叠腔输出信号中尖峰信号幅值高于设定的阈值时触发关闭激光束，由折叠腔输出信号拟合得到折叠腔衰荡时间，并由折叠腔衰荡时间和直腔衰荡时间计算得到测试镜反射率。