[发明专利]基于自参考波前传感器和连续表面变形镜的自适应光学系统无效
| 申请号： | 200710099702.X | 申请日： | 2007-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN101055348A | 公开（公告）日： | 2007-10-17 |
| 发明（设计）人： | 饶长辉;林衡;鲜浩 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G02B26/06 | 分类号： | G02B26/06 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人： | 贾玉忠;卢纪 |
| 地址： | 61020*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 基于自参考波前传感器和连续表面变形镜的自适应光学系统，由波前校正器，基于Mach－Zehnder干涉法的自参考波前传感器和工控机组成，光束首先通过波前校正器后，反射进入基于Mach－Zehnder干涉法的自参考波前传感器，基于Mach－Zehnder干涉法的自参考波前传感器探测到的波前信息经过工控机一次矩阵运算后直接输出控制电压到波前校正器进行闭环。波前校正器采用独立单元连续表面变形镜有较快的响应速度，波前探测器运用干涉原理，具有较高的空间分辨率和探测精度，这样可以极大提高基于干涉波前探测器的自适应光学系统的波前校正性能，扩大了这种自适应光学系统的应用领域，优越性明显。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 参考 传感器 连续 表面 变形 自适应 光学系统 | ||
【主权项】：
1、基于自参考波前传感器和连续表面变形镜的自适应光学系统，其特征在于：由波前校正器，基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器和工控机组成，光束首先通过波前校正器后，反射进入基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器，基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器探测到的波前信息经过工控机一次矩阵运算后直接输出控制电压到波前校正器进行闭环。
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