[发明专利]标定高倍透射电子显微镜放大倍数测量的标准样品无效

专利信息
申请号: 200710099723.1 申请日: 2007-05-29
公开(公告)号: CN101315272A 公开(公告)日: 2008-12-03
发明(设计)人: 江龙;李津如;杨云;鲁闻生 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: G01B9/04 分类号: G01B9/04
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 李柏
地址: 100080北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于利用金的晶格常数来标定透射电子显微镜高倍放大倍数的标定领域,特别涉及标定高倍透射电子显微镜放大倍数测量的标准样品——憎水性的纳米金微晶。采用胶体化学方法制备出来的这种小于10纳米的金微晶,在高倍透射电子显微镜下能清晰地看出其晶格间距,利用晶格间距标定高倍透射电镜测量精确度。该标定高倍透射电子显微镜放大倍数测量的标准样品是带有表面活性剂的憎水性纳米金微晶,该憎水性纳米金微晶的粒径是4至10纳米,憎水性纳米金微晶的111晶格面间距为0.235纳米。本发明的憎水性纳米金微晶与国外利用单晶金所制成的金标样相比,具有同样的效果,即111晶格面间距测量值为0.235纳米。
搜索关键词: 标定 高倍 透射 电子显微镜 放大 倍数 测量 标准 样品
【主权项】:
1.一种标定高倍透射电子显微镜放大倍数测量的标准样品,其特征是:所述的标定高倍透射电子显微镜放大倍数测量的标准样品是带有表面活性剂的憎水性纳米金微晶,该憎水性纳米金微晶的粒径是4至10纳米,憎水性纳米金微晶的111晶格面间距为0.235纳米。
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