[发明专利]作为用于铜金属化的阻挡层的原子层沉积氮化钽和α相钽有效
申请号: | 200710101714.1 | 申请日: | 2002-10-25 |
公开(公告)号: | CN101174577A | 公开(公告)日: | 2008-05-07 |
发明(设计)人: | 陈岭;仲华;肖恩·M·瑟特尔;迈克尔·X·杨;奚明;文森特·库;吴典晔;艾伦·乌业;诺曼·纳卡希玛;巴里·金;张弘 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 肖善强 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种用于在衬底上形成金属互连的方法。一方面,本方法包括沉积含难熔金属的阻挡层,所述阻挡层的厚度小于2nm使得其呈现类晶体结构,并足以抑制至少一部分金属层上的原子迁移;通过交替地引入一次或多次含金属化合物的脉冲和一次或多次含氮化合物的脉冲,在至少一部分阻挡层上沉积晶种层;并在至少一部分晶种层上沉积第二金属层来生成互连。 | ||
搜索关键词: | 作为 用于 金属化 阻挡 原子 沉积 氮化 相钽 | ||
【主权项】:
1.一种在衬底上形成金属互连的方法,包括:在衬底表面上沉积第一金属层;通过交替地引入一次或多次含金属化合物的脉冲和一次或多次含氮化合物的脉冲,在至少一部分第一金属层上沉积含难熔金属的阻挡层,直至所述含难熔金属的阻挡层的厚度小于20埃,该阻挡层的厚度使得所述阻挡层呈现类晶体结构,并足以抑制原子迁移;在至少一部分所述阻挡层上沉积含铜晶种层;以及在至少一部分所述含铜晶种层上沉积第二金属层,其中所述第一金属层的晶粒生长延伸穿过所述阻挡层进入所述第二金属层内。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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