[发明专利]三维测量方法以及装置无效
申请号: | 200710101922.1 | 申请日: | 2007-04-27 |
公开(公告)号: | CN101074870A | 公开(公告)日: | 2007-11-21 |
发明(设计)人: | 城山孝二;荒木宪司;门胁勇 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明公开一种三维测量方法以及装置,其特征在于,备有:对被对象物进行激光测量的激光测量部;对由该激光测量部从多个方向测量所得的测量数据进行合成的合成机构;对由所述激光测量部所测量的测量数据和由所述合成机构所合成的再现数据进行存储的存储机构,还备有:对针对存储于所述存储机构中的测量数据的测量条件数据进行存储的测量条件存储机构;基于测量条件数据,对存储于所述存储机构中的测量数据进行校正的校正机构。从而能够降低对从多个方向测量的数据进行位置合并、合成时所产生的误差。并且能够降低:激光测量的测量结果中包含的误差,即将从多个方向测量的数据位置合并时因误差而在两个测量数据的相对位置中产生的误差。 | ||
搜索关键词: | 三维 测量方法 以及 装置 | ||
【主权项】:
1、一种三维测量装置,其特征在于,备有:对被对象物进行激光测量的激光测量部;对由该激光测量部从多个方向测量所得的测量数据进行合成的合成机构;对由所述激光测量部所测量的测量数据和由所述合成机构所合成的再现数据进行存储的存储机构,还备有:存储机构,其对针对存储在所述存储机构中的测量数据的测量条件数据,进行存储;校正机构,其基于测量条件数据对存储于所述存储机构中的测量数据进行校正。
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