[发明专利]集成电路

摘要

本发明公开了一种允许减小芯片尺寸和减少测试时间的集成电路。该集成电路包括内部电路；外部存储器控制电路，用于通过使用读命令从LSI测试器输入读数据并且用于通过使用写命令将写数据输出到LSI测试器；测试RAM，包括读数据存储部分和写数据存储部分，读数据存储部分用于存储从LSI测试器以低速输入的读数据，写数据存储部分用于存储从控制电路输出的写数据；测试电路，用于解释由外部存储器控制电路发出的读命令和写命令，用于在确定读数据必须被输入到外部存储器控制电路时将读数据从测试RAM以高速供应到外部存储器控制电路，并且用于在确定写数据被从外部存储器控制电路输出时将从外部存储器控制电路输出的写数据以高速供应到测试RAM；以及测试电路，用于将存储在测试RAM中的写数据以低速输出到LSI测试器。

主权项

1.一种能够检验电路工作速度的集成电路，该集成电路包括：将被测试的内部电路；控制电路，其位于所述内部电路与外部设备之间，用于通过使用读命令将读数据从所述外部设备输入到所述内部电路，并且用于通过使用写命令将从所述内部电路输出的写数据输出到所述外部设备；测试存储部分，其包括读数据存储部分和写数据存储部分，所述读数据存储部分用于存储以低速输入的所述读数据，所述写数据存储部分用于存储从所述控制电路输出的所述写数据；命令解释电路，其用于解释由所述控制电路发出的所述读命令和所述写命令，用于在确定所述读数据必须被输入到所述控制电路时将所述读数据从所述测试存储部分以高速供应到所述控制电路，并且用于在确定所述写数据被从所述控制电路输出时将从所述控制电路输出的所述写数据以高速供应到所述测试存储部分；输入电路，其用于将从所述外部设备输入的所述读数据以低速输入到所述测试存储部分；以及输出电路，其用于将供应到所述测试存储部分的所述写数据以低速输出到所述外部设备。