[发明专利]肖特基元件及制造该肖特基元件的半导体制程有效

专利信息
申请号: 200710103403.9 申请日: 2007-05-08
公开(公告)号: CN101051655A 公开(公告)日: 2007-10-10
发明(设计)人: 蒋秋志;黄志丰;伍佑国;林隆世 申请(专利权)人: 崇贸科技股份有限公司
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L21/329
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 陈亮
地址: 台湾省231台北县*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种肖特基(Schottky)元件及其半导体制程。该肖特基元件包含一基板、一深阱、一肖特基接面(contact)、及一欧姆(Ohmic)接面。该基板以一第一型离子掺杂。该深阱区以一第二型离子掺杂且形成于基板中。该肖特基接面使一第一电极与该深阱区接触。该欧姆接面在该深阱区中使一第二电极与一含有第二型离子的重掺杂区接触。其中,该深阱区具有一形成于该肖特基接面下且含有一横向尺寸的几何状缺口(gap),该等第一型离子及该等第二型离子为互补,且该横向尺寸用以调整该击穿电压。
搜索关键词: 肖特基 元件 制造 半导体
【主权项】:
1.一种具有一击穿电压的肖特基元件,其包含:一含有第一型离子的基板;一深阱区,是以第二型离子掺杂,且形成在该基板中;一肖特基接面,使一第一电极与该深阱区接触;以及一欧姆接面,在该深阱区中使一第二电极与一含有第二型离子的重掺杂区接触;其中,该深阱区具有一形成于该肖特基接面下且含有一横向尺寸的几何状缺口,该些第一型离子及该些第二型离子为互补,且该横向尺寸用以调整该击穿电压。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于崇贸科技股份有限公司,未经崇贸科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710103403.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top