[发明专利]一种用于测定粉体的体积电阻率的装置和方法有效
申请号: | 200710103773.2 | 申请日: | 2007-05-29 |
公开(公告)号: | CN101315343A | 公开(公告)日: | 2008-12-03 |
发明(设计)人: | 吴声本;郜志华;黄丽;刘海瑞 | 申请(专利权)人: | 上海比亚迪有限公司 |
主分类号: | G01N27/04 | 分类号: | G01N27/04 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王凤桐;周建秋 |
地址: | 201611上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种用于测定粉体的体积电阻率的装置包括两个导电体,其中,该装置还包括绝缘料仓,绝缘料仓的两端开口,在使用时,所述两个导电体各自的至少一部分分别通过绝缘料仓两端的开口插入到绝缘料仓的腔体中,两个导电体的插入到绝缘料仓腔体中的部分的至少端部与绝缘料仓的内壁无缝接触,并且至少一个导电体的插入到绝缘料仓腔体中的部分能够在绝缘料仓的腔体中滑动。本发明还提供了一种利用该装置测定粉体的体积电阻率的方法。本发明提供的装置可以方便快捷地测定粉体的体积电阻率。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 测定 体积 电阻率 装置 方法 | ||
【主权项】:
1、一种用于测定粉体电阻率的装置,该装置包括两个导电体,其特征在于,该装置还包括绝缘料仓,绝缘料仓的两端开口,在使用时,所述两个导电体各自的至少一部分分别通过绝缘料仓两端的开口插入到绝缘料仓的腔体中,两个导电体的插入到绝缘料仓腔体中的部分的至少端部与绝缘料仓的内壁无缝接触,并且至少一个导电体的插入到绝缘料仓腔体中的部分能够在绝缘料仓的腔体中滑动。
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