[发明专利]光学式测距装置及其制造方法无效
| 申请号： | 200710105195.6 | 申请日： | 2007-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN101078771A | 公开（公告）日： | 2007-11-28 |
| 发明（设计）人： | 石原武尚;民长隆之 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | G01S17/10 | 分类号： | G01S17/10;G01S7/48 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 陶凤波 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学式测距装置及其制造方法，在将发光元件(10)和第二受光部(13)直接联结的区域形成透明树脂(8、8′)，通过在该透明树脂(8、8′)上形成第二光路(18)，若温度上升则光路长度增加，但折射率下降，因此，光路长自身大致一定。能够使上述第二光路(18)的长度不依赖温度而保持为大致一定。另外，通过将第一光路(17)用的第一受光部(12)和第二光路(18)用的第二受光部(13)形成在同一受光元件(11)上，能够减少第一受光部(12)的特性和第二受光部(13)的特性的温度波动。根据该光学式测距装置，即使在温度变化很大的环境下也能够得到高的测距精度。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测距 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学式测距装置，其特征在于，包括：发光元件；受光元件，其接受从上述发光元件射出的光；第一光学系统，其用于形成使从上述发光元件射出的光被测距对象物反射后而到达上述受光元件的第一光路；第二光学系统，其用于形成使从上述发光元件射出的光不被上述测距对象物反射地到达上述受光元件的第二光路；距离信息计算机构，其基于在接受通过了上述第一光路的光时从上述受光元件射出的信号、和接受通过了上述第二光路的光时从上述受光元件输出的信号，得到距上述测距对象物的距离信息，上述第二光学系统具有透明树脂，该透明树脂与上述发光元件的发光部和上述受光元件的受光部直接接触并将从上述发光部射出的一部分光导向上述受光部。
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