[发明专利]处理器利用率的测量装置及方法有效
| 申请号： | 200710106196.2 | 申请日： | 2007-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN101067797A | 公开（公告）日： | 2007-11-07 |
| 发明（设计）人： | 刘志强 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 尚志峰;吴孟秋 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种嵌入式系统处理器利用率的测量装置，包括：系统总线，与总线监视器、计数器、以及处理器相连；总线监视器，用于监视系统总线，当识别出预期总线特征时，产生计数器触发信号；定时器，通过设置其定时周期来设置利用率统计时段的时长；中断控制器，用于在定时器的定时周期到达时，产生中断触发信号。在此基础上本发明还公开了一种嵌入式系统处理器利用率的测量方法。通过本发明的方案，可以克服现有技术中存在的对操作系统的依赖性问题及其存在的测量误差大、影响系统性能等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 处理器 利用率 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种处理器利用率的测量装置，其特征在于，包括：系统总线，与总线监视器、计数器、以及处理器相连；所述总线监视器，用于监视所述系统总线，当识别出预期总线特征时，产生计数器触发信号；所述计数器，在所述总线监视器产生的所述计数器触发信号的触发下，开始计数；定时器，通过设置其定时周期来设置利用率统计时段的时长；以及中断控制器，用于在所述定时器的所述定时周期到达时，产生中断触发信号。
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