[发明专利]半导体器件的制造方法无效

专利信息
申请号: 200710106555.4 申请日: 2007-06-06
公开(公告)号: CN101090081A 公开(公告)日: 2007-12-19
发明(设计)人: 田上哲治 申请(专利权)人: 株式会社瑞萨科技
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L21/48;H01L23/498;H01L23/12
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 秦晨
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 半导体器件的制造方法,以增加半导体芯片的管脚数量为目的,对布线进行电解电镀被变为可能。使用了封装基片3,利用它,用于电力供给的环形公用布线3p形成于主表面3a器件区3v的键合引脚3j的内部区域。由于用于电力供给且与公用布线3p相连的多个第一电镀线3r和第四电镀线3u可以被通过上述方式进行布置,用于电解电镀的馈线可以被布置到背面所有的连接盘部分。因此,对封装基片3的主表面3a以及背表面的布线进行电解电镀成为可能。即使多行的连接盘部分形成并覆盖背表面的周边,仍可以对所有的连接盘部分进行电解电镀。因此,以增加半导体器件管脚数量为目的,可以对布线进行电解电镀。
搜索关键词: 半导体器件 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件的制造方法,包括以下步骤:(a)制备布线基片,该布线基片在经由用于电力供给的引出线提供电源以及在具有形成于主表面内的多个键合电极、形成于与主表面相对的背表面的多个连接盘部分、形成于主表面的键合电极的内部区域且用于电力供给的公用布线、和以公用布线电连接的用于电力供给的多个引出线的布线基片器件区内的每个布线和电极上形成镀层后,通过分离公用布线和用于电力供给的引出线形成的;(b)在布线基片的主表面上安装半导体芯片;(c)电耦合半导体芯片的电极和布线基片的键合电极;以及(d)在布线基片的连接盘部分内形成外引脚。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社瑞萨科技,未经株式会社瑞萨科技许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710106555.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top