[发明专利]半导体器件无效
| 申请号： | 200710108266.8 | 申请日： | 2007-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN101086514A | 公开（公告）日： | 2007-12-12 |
| 发明（设计）人： | 山口德志 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 周少杰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种半导体器件，配备有：逻辑电路，如存储器；自测试电路，用于自测试逻辑电路；关键路径，定义为直到逻辑电路；测试路径，定义为从自测试电路直到逻辑电路；延迟电路，在测试路径上提供，为其设定与关键路径的延迟值相同的延迟值；以及选择/输出电路，用于选择经由关键路径输入的信号、以及经由测试路径输入的另一个信号中的任意一个，并且输出选择的信号。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 | ||
【主权项】：
1.一种具有自测功能的半导体器件，包括：故障检测电路，其用于通过使用测试模式，检测逻辑电路的故障；关键路径，定义为直到所述逻辑电路；测试路径，定义为从所述故障检测电路直到所述逻辑电路；延迟电路，其在所述测试路径上提供，为其设定与所述关键路径的延迟值相同的延迟值；以及选择/输出电路，用于选择经由所述关键路径输入的信号、以及经由所述测试路径输入的另一个信号中的任意一个，并且输出所述选择的信号；其中：所述选择/输出电路当所述半导体器件在正常操作下操作时，输出经由所述关键路径输入的所述信号，而当所述半导体器件在自测操作下操作时，输出经由所述测试路径和所述延迟电路输入的信号。
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