[发明专利]芯片封装构造、芯片构造及芯片形成方法有效

专利信息
申请号: 200710109208.7 申请日: 2007-05-22
公开(公告)号: CN101075591A 公开(公告)日: 2007-11-21
发明(设计)人: 林家旭 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L27/00;H01L21/78
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所 代理人: 翟羽
地址: 台湾省高雄市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开一种防止爬胶的芯片封装构造,其主要包括一承载器、一芯片及一底胶。芯片设置于承载器上,芯片包括有一芯片本体及一挡胶部,芯片本体具有至少一侧面,挡胶部形成于该侧面,挡胶部具有一顶面与一底面,挡胶部的底面与顶面之间构成有一夹角,该夹角为锐角。底胶形成于承载器与芯片之间且能够被挡胶部的底面阻挡,以防止底胶向上爬胶而污染芯片。
搜索关键词: 芯片 封装 构造 形成 方法
【主权项】:
1.一种芯片封装构造,其包括有:一承载器、一芯片及一底胶,其中所述承载器具有一表面;所述芯片设置于所述承载器上,所述芯片包括有一芯片本体,所述芯片本体具有一主动面、一背面及一侧面;以及所述底胶形成于所述承载器与所述芯片之间,其特征在于:所述芯片还包括有一形成于所述芯片本体的侧面上的挡胶部,所述挡胶部具有一顶面及一底面,所述挡胶部的顶面与所述挡胶部的底面构成一夹角,该夹角为锐角;所述底胶被所述挡胶部的底面所挡止。
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