[发明专利]热分析仪无效
| 申请号： | 200710109899.0 | 申请日： | 2007-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN101086485A | 公开（公告）日： | 2007-12-12 |
| 发明（设计）人： | 永泽润 | 申请（专利权）人： | 精工电子纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/00 | 分类号： | G01N25/00;G05D23/00;G05D23/24;G05D23/19 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 曾祥夌;王小衡 |
| 地址： | 日本千叶*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 热分析仪包括：温度偏差近似式保存器，其保存样品和炉子之间的温度偏差的近似式和在测量温度偏差过程中炉子的升温或降温速率；程序温度校正器，其与所述升温或降温速率成比例地校正程序温度。因此，由于与温度程序的升高或降低速率成比例地校正温度偏差，所以当使用升高或降低样品或炉子的温度的温度程序来加热或冷却样品时，控制样品和炉子之间的温度偏差使其变小。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 | ||
【主权项】：
1.一种通过根据以恒定速率升高或降低用于加热样品的加热炉的温度的温度程序控制温度来测量材料性质对温度的依赖性的热分析仪，其中与所述温度程序中设置的升温速率或降温速率成比例地校正所述样品和所述加热炉之间的温度偏差。
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