[发明专利]确定检测器清单的不均匀性的方法有效
| 申请号： | 200710112104.1 | 申请日： | 2007-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN101271162A | 公开（公告）日： | 2008-09-24 |
| 发明（设计）人： | M·克勒森斯;W·埃克塞尔曼斯 | 申请（专利权）人： | 爱克发医疗保健公司 |
| 主分类号： | G01T1/16 | 分类号： | G01T1/16;G01T1/24 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘杰;张志醒 |
| 地址： | 比利时*** | 国省代码： | 比利时;BE |
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| 摘要： | 确定检测器清单的不均匀性的方法。使得清单的每一个检测器经受完全相同的平场曝光，以便在每一个所述检测器中产生辐射图像，根据所述辐射图像确定总体场分布并且在所述图像中抵消所述场分布，接下来计算所述不均匀性。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 检测器 清单 不均匀 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种检测参与在检测器清单测试中的各辐射检测器的不均匀性的方法，包括以下步骤：-使得每一个所述检测器经受基本上完全相同的平场曝光，以便在每一个所述检测器中产生辐射图像；-对于每一个所述检测器产生表示在预定义数目的感兴趣区域(ROI)处的所述辐射图像的多个ROI信号；-对于每一个所述检测器，通过相对于参考ROI信号表示所述ROI信号而产生ROI信号比值，其中所述参考ROI信号是在被取作参考感兴趣区域的其中一个所述感兴趣区域内检测到的；-在参与到所述清单测试中的各检测器上对相应的ROI信号比值求平均，以便提取所述辐射曝光的不均匀特性；-对于参与在所述检测器清单测试中的各检测器计算相对于所述相应的清单平均ROI信号比值所表示的所述ROI信号比值的局部偏差；-对于每一个检测器，计算与所述平均ROI信号比值的最大的所述偏差的绝对值。
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