[发明专利]估测组件参数误差的晶体管电路与使用其的温度感测装置

摘要

本发明揭露一种估测组件参数误差的晶体管电路与使用其的温度感测装置，其预先量测与计算出晶体管在不同驱动电流下组件参数的误差，并利用所得到的组件参数的误差补偿量测温度时的误差，进而得到准确的环境温度。该温度感测装置包括：电流产生单元，其依据控制信号，产生第一、第二、第三、第四电流；第一晶体管，耦接至电流产生单元，接收第一、第二电流，以驱动第一晶体管产生第一、第二基极电流；参数误差估测单元，耦接至电流产生单元与第一晶体管，用以接收第三、第四电流和第一、第二基极电流，并找出第一晶体管的参数误差；以及第一量测计算单元，耦接至参数误差估测单元与第一晶体管，计算出一环境温度。本发明可以提高量测温度的精密度。

主权项

1.一种温度感测装置，其中包括：一电流产生单元，其用以依据一控制信号，产生一第一电流、一第二电流、一第三电流与一第四电流；一第一晶体管，其耦接至所述电流产生单元，并接收所述第一电流与所述第二电流，以驱动所述第一晶体管产生一第一基极电流与一第二基极电流；一参数误差估测单元，其耦接至所述电流产生单元与所述第一晶体管，用以接收所述第三电流、所述第四电流、所述第一基极电流与所述第二基极电流，并依据所述第三电流与所述第一基极电流之间的差值以及所述第四电流与所述第二基极电流之间的差值，找出第一晶体管的一参数误差；以及一第一量测计算单元，其耦接至所述参数误差估测单元与所述第一晶体管，当所述第一电流驱动所述第一晶体管时，量测所述第一晶体管的基-射极电压作为一第一电压，当所述第二电流驱动所述第一晶体管时，量测所述第一晶体管的基-射极电压作为一第二电压，用以计算所述第一电压与所述第二电压的差值，并依照所述电压差值与所述参数误差计算出一环境温度。