[发明专利]示差吸光光度法在钼精矿分析中的应用无效
申请号: | 200710113924.2 | 申请日: | 2007-10-17 |
公开(公告)号: | CN101140242A | 公开(公告)日: | 2008-03-12 |
发明(设计)人: | 李信;李执强 | 申请(专利权)人: | 山东梁邹矿业集团有限公司 |
主分类号: | G01N21/78 | 分类号: | G01N21/78;G01N21/17 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 | 代理人: | 辛向东 |
地址: | 256200山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明属于分析化学领域是一种利用示差吸光光度法测量钼精矿中钼含量的方法。其采用示差吸光光度法测量一系列浓度的钼标准溶液得到标准曲线的斜率K和截距b值,以含钼10ug/ml的溶液为测试的参比溶液,通过示差吸光光度法测量待测溶液吸光度值,输入标准曲线的斜率K和截距b,仪器自动根据吸光度计算出待测溶液的钼含量。克服了重量法测定钼含量步骤繁琐费时费力的不足,大大缩短了化验周期,节约了试剂和水电,降低了化验成本。 | ||
搜索关键词: | 示差吸光 光度 精矿 分析 中的 应用 | ||
【主权项】:
1.一种利用示差吸光光度法测量钼精矿中钼含量的方法,其特征是:采用示差吸光光度法测量一系列浓度的钼标准溶液得到标准曲线的斜率K和截距b值,以含钼10ug/ml的溶液为测试的参比溶液,通过示差吸光光度法测量待测溶液吸光度值,输入标准曲线的斜率K和截距b,仪器自动根据吸光度计算出待测溶液的钼含量。
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