[发明专利]IC卡测试系统无效

专利信息
申请号: 200710119378.3 申请日: 2007-07-23
公开(公告)号: CN101101312A 公开(公告)日: 2008-01-09
发明(设计)人: 须清 申请(专利权)人: 北京派瑞根科技开发有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/317;G01R31/3181
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100026北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: IC卡测试系统是对满足标准规范的读卡终端和IC卡的接口电气特性进行测试并能够给出与标准规范相比较的偏差指标和对于接口信号波形的适应性指标的系统,通过采用模拟数字转换技术采集接口信号波形、采用数字模拟转换技术输出接口信号以及通过软件模拟读卡终端和IC卡的接口波形和电特性以测试IC卡与读卡终端进行通讯的接口电气特性,通过软件控制输出接口信号的波形可以使IC卡测试系统产生的信号波形范围比标准规范规定的范围更大,接收信号的偏差允许度更大,从而不仅可以给出读卡终端或IC卡与标准规范是否兼容的测试,还可以给出读卡终端或IC卡的各个性能指标与标准规范之间兼容性的详细报告。
搜索关键词: ic 测试 系统
【主权项】:
1、IC卡测试系统,其特征是由IC卡接口电气特性测试模块、基于计算机的数据分析处理系统和分析软件构成,其中IC卡接口电气特性测试模块与基于计算机的数据分析处理系统采用计算机标准接口进行电连接,分析软件运行在基于计算机的数据分析处理系统中。
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