[发明专利]一种自适应自动检测坏点的图像处理芯片及方法有效

专利信息
申请号: 200710120217.6 申请日: 2007-08-13
公开(公告)号: CN101110050A 公开(公告)日: 2008-01-23
发明(设计)人: 吴大斌 申请(专利权)人: 北京中星微电子有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/34;G01R31/00
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 龙洪;霍育栋
地址: 100083北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种自适应自动检测坏点的图像处理芯片及方法;所述图像处理芯片包括坏点检测模块、控制模块和存储器;所述方法包括:a.图像处理芯片上电;b.一帧到来时,进行一次坏点检测;c.将检测结果与第一存储器里坏点数据进行比对;d.根据比对的结果在第一存储器中增加、修改和删除相应的坏点数据;如果继续检测则返回步骤b。本发明的技术方案可以不用软件的介入就实现坏点自动检测,并且能够在边检测边对坏点数据进行增、删,使坏点数据能够及时更新,实现了对坏点的自适应自动检测。本发明的优化方案还可以自动进行坏点消除。
搜索关键词: 一种 自适应 自动检测 图像 处理 芯片 方法
【主权项】:
1.一种自适应自动检测坏点的图像处理芯片,包括坏点检测模块;其特征在于,还包括控制模块和存储器;所述坏点检测模块用于开流后对每一帧检测一次坏点,并将检测结果上报给控制模块;所述存储器包括第一存储器,用于动态存储坏点数据;所述控制模块用于读取第一存储器中的坏点数据,并和所述检测结果进行比对,根据比对的结果在第一存储器中增加、修改和删除相应的坏点数据。
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