[发明专利]集成电路高温动态老化多产品复用测试板无效
| 申请号： | 200710120720.1 | 申请日： | 2007-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN101109785A | 公开（公告）日： | 2008-01-23 |
| 发明（设计）人： | 宋鑫欣;万水明;隋红丽;孟丽芳 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所 | 代理人： | 田明 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及集成电路的测试技术领域，具体涉及一种集成电路高温动态老化多产品复用测试板。其结构包括多个用于插接老化子板的接口插座以及与老化测试系统连接的测试通道电路，其中，根据每个接口插座上的信号pin的数量，将所有的接口插座分成若干组，同一组接口插座的同一根信号pin相互并联后，与测试板的一根信号通道连接，不同组接口插座的信号pin相互独立。本发明所提供的集成电路高温动态老化多产品复用测试板，适用于将多种不同封装型式的产品同时进行老化测试，不需要根据不同封装型式的产品订制专用的老化板，从而减少了测试的准备时间，降低了测试周期，提高了测试效率，并节约了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 高温 动态 老化 产品 测试 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路高温动态老化多产品复用测试板，包括多个用于插接老化子板的接口插座以及与老化测试系统连接的测试通道电路，其特征在于：根据每个接口插座上的信号pin的数量，将所有的接口插座分成若干组，同一组接口插座的同一根信号pin相互并联后，与测试板的一根信号通道连接，不同组接口插座的信号pin相互独立。
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