[发明专利]一种纳米材料原位结构性能测试的透射电镜载片无效
| 申请号： | 200710122092.0 | 申请日： | 2007-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN101131908A | 公开（公告）日： | 2008-02-27 |
| 发明（设计）人： | 韩晓东;岳永海;张跃飞;张泽 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | H01J37/20 | 分类号： | H01J37/20;H01J37/244;G01N13/10 |
| 代理公司： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘萍 |
| 地址： | 100022*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种纳米材料原位结构性能测试的透射电镜载片属于纳米材料性能原位检测领域。该载片包括中心金属片(1)、两个附耳(2)、狭缝(3)、扇形燕尾槽(4)、沿狭缝(3)对称分布的至少20个圆形栅孔(5)；分布于中心金属片(1)左右两侧且处于同一直径上的两个附耳(2)，包含附耳在内的整个金属片的直径在2.8－3mm之间；垂直于附耳(2)的直径、沿中心金属片(1)一侧开口的狭缝(3)，该狭缝(3)宽度为2－50μm，长为1.2－1.5mm；位于与狭缝(3)同一直径上且与狭缝(3)相对的、在中心金属片的另一侧开口的扇形燕尾槽(4)，扇形燕尾槽缺口半径为0.2－0.3mm，圆心角为30－45°。本发明结构简单，便于操作，可正带轴下实现对一维纳米材料的结构信息的把握，及的力学/电学综合性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 材料 原位 结构 性能 测试 透射 电镜载片 | ||
【主权项】：
1.一种纳米材料原位结构性能测试的透射电镜载片，其特征在于，该载片包括中心金属片(1)、两个附耳(2)、狭缝(3)、扇形燕尾槽(4)、沿狭缝(3)对称分布的至少20个圆形栅孔(5)；各部分的位置为：分布于中心金属片(1)左右两侧且处于同一直径上的两个附耳(2)，包含附耳在内的整个金属片的直径在2.8-3mm之间；垂直于附耳(2)的直径、沿中心金属片(1)一侧开口的狭缝(3)，该狭缝(3)宽度为2-50μm，长为1.2-1.5mm；位于与狭缝(3)同一直径上且与狭缝(3)相对的、在中心金属片的另一侧开口的扇形燕尾槽(4)，所述的扇形燕尾槽缺口半径为0.2-0.3mm，圆心角为30-45°；以及位于狭缝两侧对称分布的40个圆形栅孔(5)，所述的圆形栅孔直径为50-120μm。
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