[发明专利]集成电路元件测试插座、插座基板、测试机台及其制造方法无效
| 申请号： | 200710123205.9 | 申请日： | 2007-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN101334425A | 公开（公告）日： | 2008-12-31 |
| 发明（设计）人： | 邹俊杰 | 申请（专利权）人： | 京元电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 | 代理人： | 包红健 |
| 地址： | 台湾省新*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种集成电路元件测试插座(Socket)、插座基板、测试机台及其制造方法，其中的测试插座包含插座本体，邻近中央部位形成有凹陷部，并在凹陷部的底部四边、底部两对边或底部两邻边设有多个弹性接触端子。这些多个弹性接触端子以阵列方式均匀排列于凹陷部的底部。更进一步地，这些多个弹性接触端子的特征是在于其部分或全部的弹性接触端子是以紧密且成对的方式排列。另外，有定位导持承座，容设于插座本体凹陷部，且此定位导持承座具有中央开口，在此中央开口的底部形成有多个容许弹性接触端子穿出的端子孔。此外，另有锁合组件和弹性保持组件，可以将定位导持承座限制于凹陷部活动。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 元件 测试 插座 机台 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路元件测试插座，至少包含：插座本体，邻近中央部位形成有凹陷部；多个弹性接触端子，设于该凹陷部；定位导持承座，容设于该凹陷部，该定位导持承座具有中央开口可容置待测集成电路元件，该中央开口的底部形成有多个容许上述弹性接触端子穿出的端子孔；以及至少一个锁合组件与至少一个弹性保持组件，将该定位导持承座限制于该凹陷部内活动；其特征在于，上述弹性接触端子的部分或全部是以紧密且成对的方式排列，使得该每对弹性接触端子可接触该待测集成电路元件的每一接脚。
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