[发明专利]存储介质中数据校验方法有效
| 申请号： | 200710124977.4 | 申请日： | 2007-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN101183565A | 公开（公告）日： | 2008-05-21 |
| 发明（设计）人： | 罗挺;谭四方;成晓华 | 申请（专利权）人： | 深圳市硅格半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供存储介质中数据校验方法，包括：组织ECC数据矩阵；对数据编码，产生行校验码和列校验码；在对ECC数据矩阵进行数据操作时，使用行校验码和列校验码对数据进行校验。本发明比单独的行校验具有更强的纠错能力，能纠正更多字节的错误，可提高校验数据的位数，容许存储介质出现较多的错误位数，并能很好地纠正这些错误。本发明能更好的支持MLC和4LC类的存储介质，达到延长存储介质的寿命，提高存储介质利用率，降低系统成本的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 介质 数据 校验 方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储介质中数据校验方法，包括：组织ECC数据矩阵；对数据编码，产生行校验码和列校验码；在对所述ECC数据矩阵进行数据操作时，使用所述行校验码和列校验码对数据进行校验。
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