[发明专利]能量分散型辐射探测系统和测量目标元素的含量的方法有效
| 申请号： | 200710126208.8 | 申请日： | 2007-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN101101269A | 公开（公告）日： | 2008-01-09 |
| 发明（设计）人： | 的场吉毅;长谷川清;深井隆行 | 申请（专利权）人： | 精工电子纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/22 | 分类号： | G01N23/22;H01J37/252 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张雪梅;刘宗杰 |
| 地址： | 日本千叶*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 为了提供能量分散型辐射探测系统和测量目标元素的含量的方法，所述方法能够通过抑制堆积的影响确定构成探测的最佳最小极限的入射辐射的强度来执行测量，该能量分散型辐射探测系统包括用于以预定强度将入射辐射照射到样品的入射系统，和用于通过照射入射辐射探测从该样品发射的辐射以便基于被探测的辐射的光谱确定该样品的目标元素的含量的探测系统，并且该能量分散型辐射探测系统包括能够通过基于被探测的辐射的光谱确定最小化目标元素的探测的最小极限的入射辐射的最佳强度来以该最佳强度照射入射辐射的控制部分。 | ||
| 搜索关键词： | 能量 分散 辐射 探测 系统 测量 目标 元素 含量 方法 | ||
【主权项】：
1.一种能量分散型辐射探测系统，该系统包括用于以预定强度将入射辐射照射到样品的入射系统，和用于通过照射入射辐射探测从该样品发射的辐射以便基于被探测的辐射的光谱确定该样品的目标元素的含量的探测系统，该能量分散型辐射探测系统包括：能够通过基于被探测的辐射的光谱确定最小化目标元素的探测的最小极限的入射辐射的最佳强度来以该最佳强度照射入射辐射的控制部分。
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