[发明专利]实现测试时钟控制结构(“TCCS”)的器件的基于扫描测试有效
| 申请号： | 200710127922.9 | 申请日： | 2007-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN101097244A | 公开（公告）日： | 2008-01-02 |
| 发明（设计）人： | C·苏尔 | 申请（专利权）人： | 晶像股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3183 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 陈炜 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了使用一个或多个测试时钟控制结构的来执行基于扫描测试的方法和计算机可读介质。在一个实施例中，方法包括执行域内测试以运用实现动态故障检测测试图的多个电路的第一域子集。它也包括执行域间测试以运用实现动态故障检测测试图的多个电路的第二域子集。此故障检测测试图可包括例如上次移位启动测试图和宽面测试图。在各个实施例中，该方法可包括配置不同的可编程测试时钟控制器来基本上并行地测试不同域。 | ||
| 搜索关键词： | 实现 测试 时钟 控制 结构 tccs 器件 基于 扫描 | ||
【主权项】：
1.一种用于实现测试时钟控制结构以实现多个电路的基于扫描测试的方法，所述方法包括：执行域内测试以运用实现动态故障检测测试图的所述多个电路的第一域子集；以及执行域间测试以运用实现动态故障检测测试图的所述多个电路的第二域子集，其中所述动态故障检测测试图包括上次移位启动测试图和宽面测试图。
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