[发明专利]具有自测试功能的存储器控制器及其测试方法有效
| 申请号： | 200710129121.6 | 申请日： | 2007-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN101105980A | 公开（公告）日： | 2008-01-16 |
| 发明（设计）人： | 蔡官烨 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邵亚丽;邸万奎 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种具有自测试功能的存储器控制器，包括：测试控制单元，其被配置为在测试模式中生成测试数据；数据传送单元，其被配置为生成数据读取定时信号，以传送数据读取定时信号和与数据读取定时信号同步的所生成的测试数据；以及数据输入/输出(I/O)单元，其被配置为将所传送的测试数据和所传送的数据读取定时信号反馈到数据传送单元，以便数据传送单元接收反馈测试数据和反馈数据读取定时信号。数据传送单元基于反馈数据读取定时信号而读取反馈测试数据，并且，测试控制单元将反馈测试数据与所生成的测试数据比较。因此，该存储器控制器可执行快速自测试。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 测试 功能 存储器 控制器 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种具有自测试功能的存储器控制器，包括：测试控制单元，其被配置为在测试模式中生成测试数据；数据传送单元，其被配置为生成数据读取定时信号，以传送数据读取定时信号和与数据读取定时信号同步的所生成的测试数据；以及数据输入/输出(I/O)单元，其被配置为将所传送的测试数据和所传送的数据读取定时信号反馈到数据传送单元，以便数据传送单元接收反馈测试数据和反馈数据读取定时信号，并且其中，数据传送单元基于反馈数据读取定时信号而读取反馈测试数据，并且，测试控制单元将反馈测试数据与所生成的测试数据比较。
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