[发明专利]一种基材表面镀层的测定方法无效
| 申请号： | 200710130479.0 | 申请日： | 2007-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN101354363A | 公开（公告）日： | 2009-01-28 |
| 发明（设计）人： | 李高贵;李永胜 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/225 | 分类号： | G01N23/225;G01B15/02 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王凤桐;董占敏 |
| 地址： | 518119广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种基材表面镀层的测定方法包括利用电子显微镜检测基材和镀层的横截面，确定镀层和基材的分界；利用能谱仪对镀层区域进行线扫描，根据能谱图上元素的特征峰确定镀层的组成，一种元素的特征峰的线扫描距离为含有该元素的镀层的厚度。本发明的方法结合使用电子显微镜和能谱仪，能够准确地检测出镀层的组成和厚度。如果待检测的镀层为多层镀层，除了能够测出各层的组成和厚度，本发明的方法还可以准确地测定出镀层的层数及排列顺序。因此，本发明的方法可以用于对镀件半成品及产品进行检验和品质控制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基材 表面 镀层 测定 方法 | ||
【主权项】：
1、一种基材表面镀层的测定方法，其特征在于，该方法包括利用电子显微镜检测基材和镀层的横截面，确定镀层和基材的分界；利用能谱仪对镀层区域进行线扫描，根据能谱图上的元素特征峰确定镀层的组成，一种元素的特征峰的线扫描距离为含有该元素的镀层的厚度。
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