[发明专利]一种在MgO或Si衬底上超薄NbN超导薄膜的生长方法无效

专利信息
申请号: 200710132283.5 申请日: 2007-09-13
公开(公告)号: CN101158026A 公开(公告)日: 2008-04-09
发明(设计)人: 康琳;昌路;李阳斌;吴培亨 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: C23C14/06 分类号: C23C14/06;C23C14/35;C23C14/54
代理公司: 南京苏高专利事务所 代理人: 柏尚春
地址: 210093*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种在MgO或Si衬底上超薄NbN超导薄膜的生长方法,该方法包括(a)MgO或Si或SiOx/Si单晶基片的清洗;(b)将基片放入磁控溅射系统中的样品座上,样品座采用冷却循环水进行冷却,水温度低于摄氏20度;(c)对系统进行抽真空,利用离子束清洗技术清洗基片;(d)清洗结束,系统继续抽真空;(e)溅射生长NbN薄膜。XRD、AFM、TEM研究,证实了薄膜的外延性能以及薄膜生长的连续性和致密性。Si基片上的SiOx层有助于提高超薄NbN超导薄膜的超导电能,和单纯的单晶Si基片相比,其上生长的超薄NbN超导薄膜的Tc和Jc都更高。
搜索关键词: 一种 mgo si 衬底 超薄 nbn 超导 薄膜 生长 方法
【主权项】:
1.一种在MgO或Si衬底上生长超薄的NbN超导薄膜的方法,其特征是该方法包括以下步骤:(a)MgO或Si或SiOx/Si单晶基片的清洗:将基片放入丙酮和酒精溶液中超声清洗,然后用去离子水冲洗,氮气吹干,备用;其中x为1或2;(b)将基片放入磁控溅射系统中的样品座上,样品座采用冷却循环水进行冷却,水温度低于摄氏20度;(c)由分子泵和机械泵组成的真空系统进行抽真空,当真空室背景真空小于5×10-4Pa后,利用离子束清洗技术清洗基片;(d)清洗结束,系统继续抽真空至背景真空小于3×10-5Pa;(e)溅射生长NbN薄膜。
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