[发明专利]基于可编程逻辑器件的多芯片自动测试方法

摘要

本发明涉及集成电路自动化测试技术，具体地说是一种基于可编程逻辑器件(FPGA)的多芯片自动测试方法。按照本发明提供的技术方案，在可编程逻辑器件中包括相互连接的采样电路、数字比较器电路、译码器及激励产生电路，其特征是：数字比较器电路的输入端与多路选择器的输出端连接，采样电路的输入端与若干个被测试芯片相连；激励产生电路分别与若干个被测芯片和一个已测芯片连接；译码电路的输出端与多路选择器连接。本发明利用可编程逻辑器件(FPGA)建立一套简单的自动测试系统，可以在测试板上同时完成一个或多个芯片的自动化测试工作，不仅可以实现自动化测试，而且投入成本少、开发速度快，完全可以满足小批量产品测试的要求。

主权项

1.基于可编程逻辑器件的多芯片自动测试技术，在可编程逻辑器件中包括相互连接的采样电路、数字比较器电路、译码器及激励产生电路，其特征是：数字比较器电路的输入端与多路选择器的输出端连接，采样电路的输入端与若干个被测试芯片相连；多路选择器为数字比较器电路提供数字输入信号；被测试芯片为采样电路提供经过模数转换后的数字输入信号；激励产生电路分别与若干个被测芯片和一个已测芯片连接，为被测芯片和已测芯片提供输入信号与时钟信号；译码电路的输出端与多路选择器连接，为多路选择器提供循环控制信号，使多路选择器选择待测的被测芯片输出信号。