[发明专利]晶体管结构及其制作方法有效
申请号: | 200710136426.X | 申请日: | 2007-07-16 |
公开(公告)号: | CN101350363A | 公开(公告)日: | 2009-01-21 |
发明(设计)人: | 李培瑛;林瑄智 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/423;H01L21/336;H01L21/28 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种晶体管结构及其制作方法。该晶体管结构包含位于基材中的栅极沟槽,其包含具有宽度大于自身颈部的笔型底部,颈部包含第一导电层而笔型底部包含第二导电层、位于栅极沟槽上并与第一导电层电连接的栅极结构、分别位于栅极沟槽一侧的源极掺杂区与漏极掺杂区,以及介于漏极掺杂区与源极掺杂区间的栅极沟道。 | ||
搜索关键词: | 晶体管 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种晶体管结构,包含:基材,该基材具有一定的晶格方向;栅极沟槽,位于该基材中,该栅极沟槽包含具有第一宽度的颈部与第二宽度的笔型底部,其中该颈部包含第一导电层、该笔型底部包含第二导电层且该第一宽度小于该第二宽度;栅极结构,其位于该栅极沟槽上并与该第一导电层电连接;源极掺杂区,设于该基材中,并位于该栅极沟槽的一侧;漏极掺杂区,设于该基材中,并位于该栅极沟槽的另一侧;栅极沟道,设于该基材中,并介于该漏极掺杂区与该源极掺杂区之间;以及介电层,其覆盖该栅极结构、该源极掺杂区与该漏极掺杂区。
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