[发明专利]内存测试装置及内存测试方法无效
| 申请号： | 200710137283.4 | 申请日： | 2007-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN101256844A | 公开（公告）日： | 2008-09-03 |
| 发明（设计）人： | 郭文孝 | 申请（专利权）人： | 环达电脑（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/48 | 分类号： | G11C29/48 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200436上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种内存测试装置及内存测试方法，适用于测试一内存，其中，该内存测试装置包括一调整模块、一构建模块及一测试模块，且该调整模块耦合该内存；而该内存测试方法通过上述内存测试装置以达成，且该内存测试方法包括以下步骤：调整模块将内存划分成一内核占用模块及一待测内存模块，其中，该待测内存模块的物理地址连续；构建模块为待测内存模块构建字符设备；测试模块依序对字符设备进行测试。如此一来，本发明内存测试装置及内存测试方法可令待测内存模块的物理地址连续，且可依序测试，以避免长时间的重复测试以及内存被漏测，从而保证内存测试的高效性且准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种内存测试装置，适用于测试一内存，其特征在于该内存测试装置包括：一调整模块，耦合该内存，且该调整模块将内存划分成一内核占用模块及一待测内存模块，其中，该待测内存模块的物理地址连续；一构建模块，耦合该调整模块，且该构建模块为待测内存模块构建字符设备；一测试模块，耦合该构建模块，且该测试模块依序对字符设备进行测试。
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