[发明专利]半导体装置的制造方法及其制造装置有效

专利信息
申请号: 200710137935.4 申请日: 2007-07-17
公开(公告)号: CN101110352A 公开(公告)日: 2008-01-23
发明(设计)人: 加藤勉 申请(专利权)人: 富士电机电子技术株式会社
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/027;H01L21/308;G03F7/00;G03F7/16
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 徐迅
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了半导体装置的制造方法及其制造装置。本发明的课题为在制造半导体装置时抑制制造成本,同时形成高精度的图案。印刷器具(100)具备贴付有形成图案的乳剂(3)的丝网结构(2)。丝网结构(2)的下侧配置晶片(6),从丝网结构(2)的上侧滴下具有触变性的包含颗粒成分的印刷抗蚀剂材料(9)。接着,一边施加压力一边刮扫刮浆板(8),在丝网结构(2)上牵拉印刷抗蚀剂材料(9),在晶片(6)上转印印刷抗蚀剂材料(9)。接着,对印刷抗蚀剂材料(9)进行加热,形成印刷抗蚀膜(11)。然后以印刷抗蚀膜(11)为掩模对晶片(6)进行加工。其后使用N-甲基-2-吡咯烷酮(16)等抗蚀剂去除溶剂,从晶片(6)上去除印刷抗蚀膜(11)。
搜索关键词: 半导体 装置 制造 方法 及其
【主权项】:
1.一种半导体装置的制造方法,其特征在于,所述制造方法包括:配置工序,将被印刷物体配置在丝网结构下,所述丝网结构设有抗蚀剂能通过的第1区域及阻止抗蚀剂通过的第2区域,所述第1区域形成所希望的图案;涂布工序,在所述丝网结构上放置包含颗粒成分的抗蚀剂材料,一边使刮浆板压接该丝网结构,使该丝网结构接触所述被印刷物体,一边移动所述刮浆板,在所述被印刷物体上涂布与所述第1区域相当的图案的抗蚀剂材料;形成工序,对涂布于所述被印刷物体上的抗蚀剂材料进行热处理,形成抗蚀膜;加工工序,将所述抗蚀膜作为掩模,加工所述被印刷物体;以及,第1去除工序,从加工后的所述被印刷物体去除所述抗蚀膜。
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