[发明专利]制造通孔和电子器件的方法有效

专利信息
申请号: 200710140268.5 申请日: 2007-08-08
公开(公告)号: CN101123242A 公开(公告)日: 2008-02-13
发明(设计)人: T·J·谢纳尔 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/12;H01L21/48;H01L23/482
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 于静;刘瑞东
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种电子器件包括:包括第一热膨胀系数(CTE)的至少一个电子芯片,和通过焊料凸起将芯片的顶侧连接到底侧的载体。所述载体还包括近似匹配所述第一CTE的第二CTE,和从载体的底侧至载体层的顶侧的多个通孔。每个通孔包括在载体的顶表面处暴露的环垫、在载体的底表面处暴露的衬垫、以及在环垫与衬垫之间设置的柱。所述柱延伸通过一定体积的空间。
搜索关键词: 制造 电子器件 方法
【主权项】:
1.一种电子器件,包括:至少一个电子芯片,其包括顶侧、底侧、和第一热膨胀系数;以及载体,其包括底侧和顶侧,所述顶侧连接到所述芯片的所述底侧,所述载体还包括近似匹配所述第一热膨胀系数的第二热膨胀系数,和从所述载体的所述底侧至所述载体层的所述顶侧的多个通孔,每个通孔包括在所述载体的顶表面处暴露的环垫,在所述载体的底表面处暴露的衬垫,和在所述环垫与所述衬垫之间设置的柱,其中所述柱延伸通过一定体积的空的空间。
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