[发明专利]密封测试方法,试样以及试验台无效
| 申请号： | 200710141697.4 | 申请日： | 2007-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN101140195A | 公开（公告）日： | 2008-03-12 |
| 发明（设计）人： | J·德莱姆;N·勒菲弗;S·普雷托－帕雷特德拉罗什福迪尔;C·于翁德凯尔马戴克 | 申请（专利权）人： | 气体运输技术公司 |
| 主分类号： | G01M3/26 | 分类号： | G01M3/26;G01N15/08 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 刘志平 |
| 地址： | 法国圣雷米*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 一种测试试样(21)密封的方法，该试样包括密封薄膜和邻接所述密封薄膜至少一个纤维加强层，所述方法包括以下步骤：固定所述试样到包含真空室(23)的试验台(22)上，在压力下实施第一测试行为，使得所述试样受到至少第一热冲击，和在压力下实施至少第二测试行为，其特征在于所述方法包括至少下面的步骤：在所述压力下的第一测试行为之后，从所述试验台上移去所述试样，使得远离所述试验台的所述试样受到第一热冲击，和再固定所述试样到所述试验台上，以实施在压力下的所述第二测试行为。 | ||
| 搜索关键词： | 密封 测试 方法 试样 以及 试验台 | ||
【主权项】：
1.一种测试试样(21)密封的方法，该试样包括密封薄膜和邻接所述密封薄膜的至少一个纤维加强层，所述方法包括以下步骤：-以如此方式固定所述试样到包含真空室(23)的试验台(22)上，使得所述待测试的所述试样的区域(24)覆盖所述真空室的开口(30)，围绕所述待测试的区域的所述试样的连接表面(25)通过密封装置(31，32)连接到围绕所述开口的所述试验台的连接表面(26)上，-在压力下实施第一性能测试，包括在所述真空室中压力的减低，和在所述真空室中压力的测量，-使得所述试样受到至少第一热冲击，和-在压力下实施至少第二性能测试，其特征在于：所述密封装置能够使得所述试样以非损坏的方式与所述试验台分离，所述方法包括至少下面的步骤：-在所述压力下的所述第一性能测试之后，从所述试验台上移去所述试样，使得远离所述试验台的所述试样受到所述第一热冲击，和-再固定所述试样到所述试验台上，以在压力下实施所述第二性能测试。
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