[发明专利]半导体器件及其阻抗调整方法无效
申请号: | 200710141878.7 | 申请日: | 2007-08-15 |
公开(公告)号: | CN101145776A | 公开(公告)日: | 2008-03-19 |
发明(设计)人: | 森岛哉圭;大泽德哉;原口大;山下芳弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社瑞萨科技 |
主分类号: | H03K19/0175 | 分类号: | H03K19/0175;H01L27/04 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供了一种包括输出缓冲器电路的半导体器件,其减少了由用于阻抗调整的电路所占的面积并允许高速阻抗调整。在阻抗测量电路中,测量了与组成输出缓冲器电路的尺寸相同的多个晶体管具有相同尺寸的参考晶体管的阻抗值。阻抗代码生成电路基于来自阻抗测量电路的测量结果,将与参考晶体管的阻抗值对应的阻抗代码输出至输出缓冲器代码生成电路。输出缓冲器代码生成电路基于阻抗代码通过执行算术运算处理生成用于调整输出缓冲器电路阻抗的输出缓冲器代码以提供目标阻抗。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 阻抗 调整 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:输出缓冲器电路,具有彼此并联耦合到输出端子的多个晶体管,并具有利用输出缓冲器代码来控制的相应阻抗;以及阻抗调整电路,用于调整所述输出缓冲器电路的阻抗值,其中所述阻抗调整电路包括:输出缓冲器代码生成电路,用于生成所述输出缓冲器代码,以将所述输出缓冲器电路的阻抗设定成期望值;阻抗测量电路,用于测量包括参考晶体管的参考晶体管部分的阻抗值,每个所述参考晶体管与包括构成所述输出缓冲器电路的那些晶体管尺寸相同的晶体管的晶体管组中的一个晶体管组相关联地设置,并具有与包括在所述晶体管组中的晶体管相同的晶体管尺寸;以及阻抗代码生成电路,用于生成与所述参考晶体管部分的阻抗值对应的阻抗代码,每个所述参考晶体管部分都用作用于基于来自所述阻抗测量电路的测量结果来生成所述输出缓冲器代码的参考并将所生成的阻抗代码输出至所述输出缓冲器代码生成电路。
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