[发明专利]用于形成接触孔的掩模无效
申请号: | 200710141970.3 | 申请日: | 2007-08-10 |
公开(公告)号: | CN101126892A | 公开(公告)日: | 2008-02-20 |
发明(设计)人: | 全永斗 | 申请(专利权)人: | 东部高科股份有限公司 |
主分类号: | G03F1/00 | 分类号: | G03F1/00;G03F1/14;G03F7/00;H01L21/31;H01L21/768;G11C16/00 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郑小军 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明的实施例涉及一种用于形成接触孔的掩模,在所述的掩模中,在用于形成接触孔的光刻处理中,用于形成接触孔的掩模图案被设计为其水平轴长度大于垂直轴长度,或者其垂直轴长度大于水平轴长度。在本发明实施例中,提供了一种用于制造掩模的方法,所述掩模具有用于形成接触孔的多个图案,其中根据待形成的接触孔之间的距离可以设计不同的图案。 | ||
搜索关键词: | 用于 形成 接触 | ||
【主权项】:
1.一种掩模,包括:掩模图案,其被配置为用于形成接触孔,其中在形成所述接触孔的光刻处理中,该掩模图案被设计为其水平轴长度大于垂直轴长度,或者其垂直轴长度大于水平轴长度。
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G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
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G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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