[发明专利]存储器时序测量电路与其测试方法有效
| 申请号： | 200710142382.1 | 申请日： | 2007-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN101373639A | 公开（公告）日： | 2009-02-25 |
| 发明（设计）人： | 许智强;谢尚志 | 申请（专利权）人： | 智原科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 葛宝成;黄小临 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 存储器时序测量电路与其测试方法。存储器的时序测量电路对平衡后的多个测试信号进行不同延迟，以产生多个延迟后测试信号。各延迟后测试信号送至存储器子系统的多个输入接脚之一。藉由调整所述延迟后测试信号源的延迟量，来测试与测量存储器子系统的交流时序参数。当时序测量电路处于环形振荡时，更可量出其分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 时序 测量 电路 与其 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储器芯片，包括:一存储器子系统，用于存储数据，其包括多个接脚；一时钟树，将一测试信号源平衡地送出；以及一时序测量电路，接收由该时钟树所送出的该测试信号源，该时序测量电路将该测试信号源进行各别延迟以产生多个延迟后测试信号，所述延迟后测试信号送至该存储器子系统的所述接脚，藉由调整所述延迟后测试信号源的时序来测试该存储器子系统的存储器交流时序参数。
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