[发明专利]印刷掺杂层有效
申请号: | 200710142711.2 | 申请日: | 2007-08-15 |
公开(公告)号: | CN101136366A | 公开(公告)日: | 2008-03-05 |
发明(设计)人: | 阿尔芬德·卡曼斯;詹姆斯·蒙太古·克里维斯;乔洛·洛肯博格;派崔克·史密斯;菲比欧·苏黎士 | 申请(专利权)人: | 高菲欧股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/82 | 分类号: | H01L21/82;H01L21/8238;H01L21/84;H01L21/38;H01L27/02;H01L27/092;H01L27/12 |
代理公司: | 上海虹桥正瀚律师事务所 | 代理人: | 李佳铭 |
地址: | 美国加州森尼*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供一种用以制造一电子装置,如一MOS晶体管的方法,其包含在一介电功能性基板上形成多个半导体岛,在这些半导体岛的一第一子集上或上方印刷一第一介电层并且选择地在这些半导体岛的一第二子集上或上方印刷一第二介电层,并且进行退火处理。该第一介电层包含一第一掺杂物,并且该第二介电层包含一与该第一掺杂物不同的第二掺杂物。这些介电层、这些半导体岛以及该基板充分地进行退火处理以将该第一掺杂物扩散进入这些半导体岛的该第一子集中,并且,当出现时,将该第二掺杂物扩散进入这些半导体岛的该第二子集中。 | ||
搜索关键词: | 印刷 掺杂 | ||
【主权项】:
1.一种用以制造一金氧半导体晶体管的方法,其特征在于,包含下列步骤:(a)在一介电功能性基板上形成多个半导体岛;(b)在所述这些半导体岛的一第一子集上或上方印刷一第一介电层,并且在所述这些半导体岛的一第二子集上或上方印刷一第二介电层,所述第一介电层包含一第一掺杂物并且所述第二介电层包含一与所述第一掺杂物不同的第二掺杂物;以及(c)充分地对所述这些介电层、所述这些半导体岛以及所述基板进行退火处理,以将所述第一掺杂物扩散进入所述这些半导体岛的所述第一子集中,并且将所述第二掺杂物扩散进入所述这些半导体岛的所述第二子集中。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造