[发明专利]孔容积的光学测量方法无效
| 申请号： | 200710142859.6 | 申请日： | 2007-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN101109621A | 公开（公告）日： | 2008-01-23 |
| 发明（设计）人： | 徐春广;肖定国;朱文娟;冯忠伟;郝娟;周世圆 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B21/00 |
| 代理公司： | 北京华夏正合知识产权代理事务所 | 代理人： | 韩登营;吴建国 |
| 地址： | 100081北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种孔容积的光学测量方法，其包括以下步骤：a.将激光光源放入待测孔内并使其发光；b.用与激光光源相向设置的光拾取装置拾取由孔壁反射的光；c.采用伺服电机驱动激光光源和光拾取装置沿孔的轴线方向匀速前进；d.通过光拾取装置反复拾取孔壁反射的光，取得孔待测终点前的所有数据，对所述数据进行处理得出孔容积。这样，可通过非接触的方式实现孔容积的高精度的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 容积 光学 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种孔容积的光学测量方法，其特征是包括以下步骤：a.将激光光源放入待测孔内并使其发光；b.用与激光光源相向设置的光拾取装置拾取由孔壁反射的光；c.采用伺服电机驱动激光光源和光拾取装置沿孔的轴线方向匀速前进；d.通过光拾取装置反复拾取孔壁反射的光，取得孔待测终点前的所需数据，对所述数据进行处理得出孔容积。
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