[发明专利]存储器数据校验方法、装置、可编程逻辑器件及系统有效
申请号: | 200710145741.9 | 申请日: | 2007-08-31 |
公开(公告)号: | CN101377749A | 公开(公告)日: | 2009-03-04 |
发明(设计)人: | 李延松 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/00 | 分类号: | G06F11/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 逯长明 |
地址: | 518129广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了存储器数据校验的方法,该方法包括:接收校验命令,该命令包含起始地址、结束地址、启动标识,并将所述校验命令存储;根据校验命令中的起始地址、结束地址及启动标识对存储器中的数据读取并校验;校验完成后将校验结果保存。本发明公开了存储器数据校验装置,该装置包括:读写控制单元、起始地址寄存器、结束地址寄存器、命令寄存器、检测结果寄存器。本发明公开了存储器数据校验系统,该系统包括:控制器、数据校验装置、存储器。本发明还公开了一种可编程逻辑器件,及包含该可编程逻辑器件的存储器数据校验系统。通过本发明控制器可以在电路板需要对存储器中的数据检测时,及时通过数据校验装置对存储器进行校验。 | ||
搜索关键词: | 存储器 数据 校验 方法 装置 可编程 逻辑 器件 系统 | ||
【主权项】:
1、一种存储器数据校验的方法,其特征在于,该方法包括:接收校验命令,该命令包含起始地址、结束地址、启动标识,并将所述校验命令存储;根据校验命令中的起始地址、结束地址及启动标识对对存储器中的数据读取并校验;校验完成后将校验结果保存。
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