[发明专利]电致发光显示装置的缺陷检查方法及修正方法、制造方法无效
| 申请号： | 200710148365.9 | 申请日： | 2007-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN101174376A | 公开（公告）日： | 2008-05-07 |
| 发明（设计）人： | 小川隆司 | 申请（专利权）人： | 三洋电机株式会社;三洋半导体株式会社 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09G3/30;G01R31/00;G01R31/02;G01R31/26;G01M11/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 李香兰 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的电致发光显示装置的缺陷检查方法，使用于控制向EL元件供给的驱动电流的元件驱动晶体管在其线性区域动作，基于使EL元件为发光程度时的发光亮度或阴极电流，检测由EL元件的短路引起的灭点缺陷。在该灭点缺陷之前，通过向EL元件的阳极与阴极之间施加反向偏压，从而使灭点缺陷明显化。由此，防止在后面阶段灭点缺陷消失而不能进行激光修复等，从而提高检查和修正效率。另外，使元件驱动晶体管在其饱和区域动作，基于使EL元件为发光程度时的阴极电流或发光亮度，检测由元件驱动晶体管的特性偏差引起的暗点缺陷。由此，能高精度地检测并修正EL显示装置的显示缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 电致发光 显示装置 缺陷 检查 方法 修正 制造 | ||
【主权项】：
1.一种电致发光显示装置的缺陷检查方法，所述显示装置在各像素中包括：电致发光元件；和元件驱动晶体管，其与该电致发光元件连接，用于控制该电致发光元件中流动的电流，向各像素供给使所述电致发光元件为发光程度的检查用导通显示信号，并且，使所述元件驱动晶体管在该晶体管的线性区域动作，检测所述电致发光元件的特性，基于该特性检测灭点缺陷，在执行所述灭点缺陷的检测之前，向各像素的所述电致发光元件施加反向偏压，使所述灭点缺陷明显化。
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