[发明专利]光学位置追踪装置及其测试方法无效
| 申请号： | 200710148880.7 | 申请日： | 2007-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN101192119A | 公开（公告）日： | 2008-06-04 |
| 发明（设计）人： | 李祐锡;李芳远 | 申请（专利权）人： | 艾勒博科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/033 | 分类号： | G06F3/033;G06F3/038 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 左一平 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种光学位置追踪装置及其测试方法，此装置包含：控制器，用于响应于命令信号而产生至少一个测试操作信号；测试信号产生器，用于响应于所述测试操作信号在测试操作期间产生测试信号；运动计算器，用于响应于所述测试操作信号在所述测试操作期间接收所述测试信号并执行操作，以输出输出信号；以及输出信号分析器，用于响应于所述测试操作信号在所述测试操作期间确定所述输出信号是否正确，以输出结果信号。因此，本发明可以显著降低测试方法的复杂性而不必采用高性能测试设备。此外，可通过简化和优化测试环境来缩短测试此装置所花费的时间，且可通过将此装置与例如个人计算机的典型系统连接而不是专门采用测试设备来执行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 位置 追踪 装置 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学位置追踪装置，其特征在于包括：控制器，用于响应于命令信号而产生至少一个测试操作信号；测试信号产生器，用于响应于所述测试操作信号在测试操作期间产生测试信号；运动计算器，用于响应于所述测试操作信号在所述测试操作期间接收所述测试信号并执行操作，以输出输出信号；以及输出信号分析器，用于响应于所述测试操作信号在所述测试操作期间确定所述输出信号是否正确，以输出结果信号。
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