[发明专利]集成电路和指定集成电路的方法有效
| 申请号： | 200710149163.6 | 申请日： | 2007-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN101144847A | 公开（公告）日： | 2008-03-19 |
| 发明（设计）人： | M·帕德福克;T·勒;T·普夫吕格尔;S·邦塞尔斯 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 于静;李峥 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及一种在集成电路上使用至少一个LBIST引擎执行测试用例的方法，该集成电路具有多个根据预定方案互连的存储元件(10、12)和逻辑电路(14、16、18；30)。LBIST引擎至少部分地由出于功能目的提供并在集成电路中可用的存储元件(28，虚线)和/或逻辑电路(30，虚线)来构建。至少一个扫描链(28，实线)形成为一系列选定存储元件(10、12)，并且其他存储元件(28，虚线)在测试模式中用于LBIST引擎或所述LBIST引擎的一部分。扫描链(28，实线)由测试图形驱动，并且LBIST测试用例测试所述逻辑电路(30，实线)的与所述扫描链(20；28，实线)的所述存储元件对应的那些部分。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 指定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于在集成电路上使用至少一个逻辑内建自测试引擎执行测试用例的方法，所述集成电路具有多个根据预定方案互连的存储元件(10、12)和逻辑电路(14、16、18；30)，其中所述逻辑内建自测试引擎至少部分地由出于功能目的提供并在所述集成电路中可用的存储元件(28，虚线)和/或逻辑电路(30，虚线)来构建，至少一个扫描链(28，实线)形成为一系列选定存储元件(10、12)，其余的存储元件(28，虚线)在测试模式中用于所述逻辑内建自测试引擎或所述逻辑内建自测试引擎的一部分，所述扫描链(28，实线)由测试图形驱动，以及逻辑内建自测试测试用例测试所述逻辑电路(30，实线)的与所述扫描链(20；28，实线)的所述存储元件对应的那些部分。
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