[发明专利]角度测量系统及其制造方法有效
申请号: | 200710152762.3 | 申请日: | 2007-09-20 |
公开(公告)号: | CN101149258A | 公开(公告)日: | 2008-03-26 |
发明(设计)人: | J·米特赖特 | 申请(专利权)人: | 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司 |
主分类号: | G01B21/22 | 分类号: | G01B21/22;B23K26/36 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 曹若;赵辛 |
地址: | 德国特劳*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种角度测量系统,它具有一支承装置和一测量头,其中支承装置由一刻度环、一外环和滚动体构成。既在刻度环上也在外环上形成导轨表面,其中刻度环的导轨表面具有比外环的导轨表面更小的导轨半径。此外,外环的导轨表面与刻度环的导轨表面相对置地设置,并且滚动体以下述方式设置在两个导轨表面之间,即支承装置径向无间隙。此外,一角标度以下述方式直接设置在刻度环上,即在一第一区域(U1)中的角标度的几何图案根据支承装置的圆周运动偏差而与一第二区域(U2)中的角标度的几何图案有偏差。角标度可通过扫描头扫描。此外,本发明还包括一如此类型的角度测量系统的制造方法。 | ||
搜索关键词: | 角度 测量 系统 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.角度测量系统,它包括一支承装置(12)和一扫描头(4),其中该支承装置(12)包括*一刻度环(1.1),*一外环(2),和*滚动体(3),其中,该刻度环(1.1)相对于外环(2)可绕一轴线(A)转动,并且既在刻度环(1.1)上、也在外环(2)上分别形成一导轨表面(1.11、2.11),其中,刻度环(1.1)的导轨表面(1.11)具有比外环(2)的导轨表面(2.11)更小的导轨半径(r);外环(2)的导轨表面(2.11)与刻度环(1.1)的导轨表面(1.11)相对置地设置,并且滚动体(3)以这种方式设置在所述两个导轨表面(1.11、2.11)之间:支承装置(12)径向无间隙;一角标度(1.12)以下述方式直接设置在刻度环(1.1)上,即在一第一区域(U1)中的角标度(1.12)的一几何图案根据支承装置(12)的圆周运动偏差而与一第二区域(U2)中的角标度(1.12)的一几何图案有偏差,并且角标度(1.12)可通过扫描头(4)进行扫描。
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