[发明专利]干涉仪角度灵敏度校准方法无效

专利信息
申请号: 200710154729.4 申请日: 2007-09-13
公开(公告)号: CN101165454A 公开(公告)日: 2008-04-23
发明(设计)人: 葛宗涛 申请(专利权)人: 富士能株式会社
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02;G01B11/26
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李贵亮
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种干涉仪角度灵敏度校准方法,其可以容易且高精度地校准所测定的倾斜角度限定在规定的角度范围内的倾斜角度测定用的干涉仪的角度灵敏度。在与被检面的倾斜角度对应的规定的被测定角度范围内,视为在被检面的每单位长度的干涉条纹的条数与倾斜角度之间比例关系成立,设定规定的角度灵敏度,并基于以呈被测定角度范围内的基准倾斜角度的方式设定的基准倾斜面(31)的测定结果,校准该设定的角度灵敏度算式的比例系数。
搜索关键词: 干涉仪 角度 灵敏度 校准 方法
【主权项】:
1.一种干涉仪的角度灵敏度校准方法,所述干涉仪拍摄承载有被检面的倾斜信息的干涉条纹图像,并基于该干涉条纹图像测定所述被检面的倾斜角度,所述干涉仪的角度灵敏度校准方法对所述干涉仪的角度灵敏度进行校准,其特征在于,依次进行以下步骤:角度灵敏度算式设定步骤,其在与所述被检面的倾斜角度对应的规定的被测定角度范围内,视为在所述被检面的每单位长度的干涉条纹的条数(p)和所述倾斜角度(θ)之间,使用了规定的比例系数(k)的比例关系成立,设定下式(1)所示的角度灵敏度算式;测定步骤,其用所述干涉仪测定以呈所述被测定角度范围内的基准倾斜角度(α)的方式设定的基准倾斜面,求出该基准倾斜面的每单位长度的条纹条数(p1),并且基于该条纹条数(p1)和下式(1)计算所述基准倾斜角度(α)的测定临时值(α1),从而得到下式(2)的关系;校准步骤,其基于所述条纹条数(p1)和所述基准倾斜角度(α)且通过下式(3)求出已校准的比例系数(k1),将该已校准的比例系数(k1)和下式(1)的比例系数(k)置换,从而得到下式(4)所示的已校准的角度灵敏度算式。p=k·θ ……(1)p1=k·α1 ……(2)k1=p1/α ……(3)p=k1·θ ……(4)
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士能株式会社,未经富士能株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710154729.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top