[发明专利]包括具有不同相变材料的存储器单元的相变存储器件以及相关方法和系统在审

专利信息
申请号: 200710154791.3 申请日: 2007-09-19
公开(公告)号: CN101150138A 公开(公告)日: 2008-03-26
发明(设计)人: 安东浩;堀井秀树;裵晙洙 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;H01L21/82;G11C11/56
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 黄启行;穆德骏
地址: 韩国京畿道水*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 相变存储器件可以包括集成电路衬底以及该集成电路衬底上的第一和第二相变存储元件。第一相变存储元件可以包括具有第一结晶温度的第一相变材料。第二相变存储元件可以包括具有第二结晶温度的第二相变材料。此外,第一和第二结晶温度可以不同,以使得可以在不同的温度下对第一和第二相变存储元件进行编程。还讨论了相关的方法和系统。
搜索关键词: 包括 具有 不同 相变 材料 存储器 单元 存储 器件 以及 相关 方法 系统
【主权项】:
1.一种相变存储器件,包括:集成电路衬底;在所述集成电路衬底上的第一相变存储元件,其中,所述第一相变存储元件包括具有第一结晶温度的第一相变材料;以及在所述集成电路衬底上的第二相变存储元件,其中,所述第二相变存储元件包括具有第二结晶温度的第二相变材料,并且其中,所述第一和第二结晶温度不同,以使得可以在不同的温度下对所述第一和第二相变存储元件进行编程。
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